特提斯校正校驗室針對次世代光通訊需求優化之校準方案。因應 800G、1.6T 光模組及 AI 資料中心建設趨勢，精準的光功率與波長數據是維持系統穩定度與降低誤碼率（BER）的核心關鍵。
校準波段範圍
850nm / 980nm / 1310nm / 1490nm / 1550nm / 1650nm
功率量測動態範圍
-70 dBm 至 +10 dBm
認證與體系
ISO/IEC 17025 / TAF 認證溯源
校驗儀器類別
提供各大廠牌光學儀器之校正服務，確保跨廠牌設備間之量測一致性：
- 光功率計 (Optical Power Meter)
- 光波長源 (Light Source)
- 光譜分析儀 (OSA)
- 光時域反射儀 (OTDR)
- 光衰減器 (Attenuator)
- 光示波器
- E1 數據誤碼儀
高精度量測環境
精密光電校驗需排除微小環境變數。本校驗室於下列受控環境下進行作業：
- 恆溫： 23±1°C (防止受光元件熱噪點漂移)
- 恆濕： 55±5% RH (抑制光纖介面靜電吸附)
- 防護： 具備低震動基座與低電磁干擾屏蔽設計
量測追溯性 (Metrological Traceability)：
本校驗室所有測試數據均可追溯至國際單位制 (SI Units)，協助客戶確保產品在 LiDAR、航太光學、醫療雷射及高速光通訊應用中符合全球標準。
本校驗室所有測試數據均可追溯至國際單位制 (SI Units)，協助客戶確保產品在 LiDAR、航太光學、醫療雷射及高速光通訊應用中符合全球標準。
